牛津CMI165帶溫度補(bǔ)償功能的面銅測(cè)厚儀 手持式面銅測(cè)厚儀

牛津儀器CMI165系列用于測(cè)試高/低溫的PCB銅箔、蝕刻或整平后的銅厚定量測(cè)試、
電鍍銅后的面銅厚度測(cè)量，在PCB鉆孔、剪裁、電鍍等工序前進(jìn)行相關(guān)銅箔來(lái)料檢驗(yàn)。

儀器規(guī)格： CMI165配置包括：
厚度測(cè)量范圍：化學(xué)銅：0.25μm–12.7μm（0.01mils–0.5mils）
電鍍銅：2.0μm–254μm（0.1mil–10mil）
線性銅線寬范圍：203μm–7620μm（8mil–300mil）
儀器再現(xiàn)性：0.08μm at 20μm（0.003 mils at 0.79 mils）
顯示單位：mil、μm、oz
操作界面：英文、簡(jiǎn)體中文
存 儲(chǔ) 量：9690條檢測(cè)結(jié)果（測(cè)試日期時(shí)間可自行設(shè)定）
測(cè)量模式：固定測(cè)量、連續(xù)測(cè)量、自動(dòng)測(cè)量模式
統(tǒng)計(jì)分析：數(shù)據(jù)記錄，平均數(shù)，標(biāo)準(zhǔn)差，上下限提醒功能

儀器特點(diǎn)：
 應(yīng)用先進(jìn)的微電阻測(cè)試技術(shù)，符合EN14571測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。SRP-T1 探頭由四支探針組成，AB為正極CD為負(fù)極；測(cè)量時(shí)，電流由正極到負(fù)極會(huì)有微小的電阻，通過(guò)電阻值和厚度值的函數(shù)關(guān)系準(zhǔn)確可靠得出表面銅厚，不受絕緣板層和線路板背面銅層影響

 耗損的SRP-T1探頭可自行更換，為牛津儀器**產(chǎn)品
 儀器的照明功能和SRP-T1探頭的保護(hù)罩方便測(cè)量時(shí)準(zhǔn)確定位
 儀器具有溫度補(bǔ)償功能，測(cè)量結(jié)果不受溫度影響
 儀器為工廠預(yù)校準(zhǔn)
 測(cè)試數(shù)據(jù)通過(guò)USB2.0 實(shí)現(xiàn)高速傳輸，可保存為Excel文件
 儀器使用普通AA電池供電

CMI165配置包括：
 CMI165主機(jī)
 SRP-T1探頭
 NIST認(rèn)證的校驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)片1個(gè)